In tehnicile bazate pe interferometrie distantele de măsurat sunt compatibile cu lungimea de unda a luminii emise de sursa de referinţa. Aparatul cel mai utilizat este interferometrul Michelson.
Fasciculul luminos de la Laserul L este trecut prin sistemul de lentile l1, l2 in scopul de a-i reduce divergenta. Fasciculul este divizat cu ajutorul oglinzii semitransparente S. Cele doua fascicule obţinute vor fi reflectate de oglinzile O1 si respective O2, se vor suprapune din nou si vor da naştere unui fenomen de interferenţă. Rezultatul interferenţei intr-un anumit punct al fasciculului emergent este determinat de defazajul, introdus fie datorita parcurgerii braţelor de lungimi diferite, L1 si L2, fie datorita indicilor de refracţie diferiţi ai mediilor pe care le parcurg cele doua fascicule, n1 si n2.
Metoda interferometrica nu se practica pentru distante foarte mari domeniile ei esentiale fiind: metrologia, geodezia si seismologia, precum si la prelucrarile mecanice de inalta precizie.
Niciun comentariu:
Trimiteți un comentariu